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2012年3月26日,測(cè)試應(yīng)用中心引進(jìn)國內(nèi)首臺(tái)最高可測(cè)試2500伏IGBT、MOSFET、二極管、功率三極管等動(dòng)態(tài)參數(shù)的尖端測(cè)試設(shè)備—ITC57300動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀,進(jìn)一步完善了測(cè)試應(yīng)用中心實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試能力。該設(shè)備由美國ITC公司設(shè)計(jì)生產(chǎn),是一款高集成度功率半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀,采用測(cè)試主機(jī)+功能測(cè)試頭+個(gè)性板的測(cè)試架構(gòu),最高測(cè)試電流可以達(dá)到400A,實(shí)現(xiàn)不同類型、同類型不同封裝、同類型同封裝不同參數(shù)的高精度全自動(dòng)測(cè)試,是目前最具領(lǐng)先水平的完備可靠的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試設(shè)備,其測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)符合美軍標(biāo)MIL-STD-750E,可以滿足N溝道、P溝道器件、以及雙極型晶體管的各項(xiàng)動(dòng)態(tài)參數(shù)的測(cè)試要求,且具有波形分析功能。