20年專業(yè)經(jīng)驗 前沿技術(shù)研發(fā)新產(chǎn)品
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最近一系列事件再次表明,制約中國芯片產(chǎn)業(yè)發(fā)展的主要因素已集中到制造能力。如何快速提升制造能力,推動芯片產(chǎn)業(yè)發(fā)展?只有不斷地研發(fā)和創(chuàng)新。
在芯片界,摩爾定律一直占據(jù)統(tǒng)治地位。摩爾定律接下來是終結(jié)還是延續(xù),已成為過去十年芯片界熱議的話題。摩爾定律自1965年發(fā)明以來,一直引領(lǐng)著世界半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)向?qū)崿F(xiàn)更低的成本、更強的性能、更高的經(jīng)濟效益的目標前進。然而,隨著半導(dǎo)體技術(shù)逐漸逼近硅工藝尺寸極限,原摩爾定律導(dǎo)出的“IC的集成度約每隔18個月翻一倍,而性能也將提升一倍”的規(guī)律將受到挑戰(zhàn)。
半導(dǎo)體制造工藝的兩種演進路線圖
為此, ITRS組織針對半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中遠期發(fā)展的挑戰(zhàn),在技術(shù)路線制定上,提出選擇兩種發(fā)展方式(如圖1):一是繼續(xù)沿著摩爾定律按比例縮小的方向前進,專注于硅基CMOS技術(shù);二是按“后摩爾定律”的多重技術(shù)創(chuàng)新應(yīng)用向前發(fā)展,即在產(chǎn)品多功能化(功耗、帶寬等)需求下,將硅基CMOS和非硅基等技術(shù)相結(jié)合,以提供完整的解決方案來應(yīng)對和滿足層出不窮的新市場發(fā)展。
· 繼續(xù)使用先進節(jié)點,邁向5納米及以下
使用先進節(jié)點的好處很多,晶體管密度更大、占用空間更少、性能更高、功率更低,但挑戰(zhàn)也越來越難以克服。極小尺寸下,芯片物理瓶頸越來越難以克服。尤其在近幾年,先進節(jié)點走向10nm、7nm、5nm,問題就不再只是物理障礙了,節(jié)點越進化,微縮成本越高,能擔(dān)負巨額研發(fā)費用并實現(xiàn)盈利的設(shè)計公司越來越少。
· 以“三維集成”延續(xù)摩爾定律
幸運的是,每當(dāng)摩爾定律被唱衰將走到盡頭,總會激發(fā)出科學(xué)家和工程師們創(chuàng)新構(gòu)想,提出力挽狂瀾的突破性技術(shù),將看似走向終結(jié)的摩爾定律以“后摩爾定律”的形式延續(xù)下去。“后摩爾定律”的實質(zhì)是,它除了會延續(xù)摩爾定律對集成度、性能的追求外,還會利用更多的技術(shù),例如模擬/射頻、高壓功率電源、MEMS傳感器、生物芯片技術(shù)及系統(tǒng)級封裝(SiP)等三維集成技術(shù),以提供具有更高附加值的系統(tǒng)。
ITRS指出,在“后摩爾定律”范疇,隨著新興應(yīng)用不斷出現(xiàn),智能化微系統(tǒng)芯片將會進入三維集成時代。三維集成技術(shù)概覽和兩條主要的工藝路線
三維集成電路又稱立體集成電路,是集成電路從傳統(tǒng)平面集成方式向垂直方向立體集成方式延伸的產(chǎn)物。三維集成電路的優(yōu)勢在于:多層器件重疊結(jié)構(gòu)使芯片集成度成倍提高;TSV和混合鍵合工藝使芯片間互連長度大幅度縮短,提高傳輸速度并降低了功耗;多種工藝混合集成,使集成電路功能多樣化;減少封裝尺寸,降低設(shè)計和制造成本。三維集成技術(shù)可將多層集成電路芯片或晶圓堆疊鍵合,通過三維互連實現(xiàn)多層之間的電信號連接。三維集成技術(shù)能實現(xiàn)異質(zhì)芯片互連結(jié)合,發(fā)揮出最高系統(tǒng)性能水平,是其獨特的最大優(yōu)勢。
· 晶圓間三維堆疊技術(shù)
通過鍵合堆疊和連通孔工藝的持續(xù)改進滿足芯片對更大帶寬、更小功耗的要求。其工藝目前主要用于圖像傳感器的生產(chǎn),近些年,隨著物聯(lián)網(wǎng)、人工智能和5G對更大帶寬、更小功耗和更低延時等特性產(chǎn)品的要求,晶圓級三維集成開始應(yīng)用于大容量存儲、存算一體、高性能計算等領(lǐng)域。代表廠家有Intel、TSMC、Samsung、SONY等。
· 多顆芯片間三維互連技術(shù)
芯片級三維集成,主要追求芯片間凸點(Bump)連接小型化,來提高集成度和芯片性能。其技術(shù)特點依托于封裝打線(Wire bond)和凸點(bump)為基礎(chǔ),把不同功能的芯片通過毫米級的封裝工藝連接。代表廠家主要為半導(dǎo)體制造領(lǐng)域的后端封裝廠,如Amkor、SPIL、ASE、長電、華進等。
二者互有優(yōu)劣,晶圓間堆疊工藝精度高、互聯(lián)密度大;但相較芯片間互連,其良率相對較低、對芯片尺寸匹配度要求高。