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2013年3月26日，由西安芯派電子科技有限公司、西安科技大市場、西安集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展中心、西安高新技術(shù)企業(yè)協(xié)會主辦的2013西安功率器件測試應(yīng)用中心關(guān)于高可靠性功率器件及系統(tǒng)的測試與應(yīng)用技術(shù)的研討會正式啟動，西安市有關(guān)領(lǐng)導(dǎo)、嘉賓代表發(fā)表了啟動致辭，近百名來賓和同行參加了啟動儀式。

研討會為期三天，包括了主題演講、實驗室實地參觀考察、廠家來賓代表分組討論和學(xué)校講座等內(nèi)容，豐富精彩的內(nèi)容安排讓遠(yuǎn)道而來的嘉賓紛紛表示不虛此行，獲益良多。

參加啟動儀式的嘉賓（由右至左）：德國PVA應(yīng)用專家Kasim Altin先生、美國ITC公司技術(shù)開發(fā)總監(jiān)David J. Lohr先生、西安市集成電路產(chǎn)業(yè)、展中心何小寧主任、西安高新區(qū)管委會發(fā)展改革和商務(wù)局局長賈強先生、西安市科技局副局長高繼平先生、西安科技大市場主任張偉國先生、西安芯派電子科技有限公司：羅義先生、西安半導(dǎo)體功率器件測試應(yīng)用中心主任劉琛女士

主題演講：

為了充分實現(xiàn)測試應(yīng)用中心的平臺作用，讓與會來賓了解最新的業(yè)內(nèi)動態(tài)和行業(yè)資訊，此次研討會主辦方特邀請了國內(nèi)外知名企業(yè)的行業(yè)專家與管理高層，就半導(dǎo)體功率器件測試技術(shù)的發(fā)展以及技術(shù)應(yīng)用和系統(tǒng)解決方案等相關(guān)主題進(jìn)行深入交流和探討。主題演講現(xiàn)場氣氛活躍，討論熱烈，與會來賓對嘉賓的演講積極提問互動，演講嘉賓逐一全面的解答，充分促進(jìn)了企業(yè)與上下游的溝通。專家們精彩的演講在熱烈的掌聲中圓滿結(jié)束。

測試應(yīng)用中心參觀：

西安功率器件測試應(yīng)用中心成立以來，多次接待同行業(yè)專家和合作院校相關(guān)專業(yè)學(xué)生參觀考察，得到專家和學(xué)校的一致肯定。參加此次研討會的省內(nèi)外來賓也對測試中心充滿期待。

3月27日，在西安芯派科技總經(jīng)理羅義先生和測試應(yīng)用中心劉琛女士的帶領(lǐng)下，與會嘉賓參觀了測試應(yīng)用中心，實驗室主任劉琛女士對實驗室設(shè)備逐一進(jìn)行了介紹，參觀來賓針對中心的一些新進(jìn)設(shè)備提出了技術(shù)疑問，設(shè)備專家逐一答疑解惑，并與來賓共同探討功率器件測試的新技術(shù)。參觀結(jié)束后來賓紛紛對實驗室的建設(shè)成果表示肯定，對實驗室未來的發(fā)展充滿信心。

分組討論及成果：

結(jié)束了3月27日上午的測試應(yīng)用中心參觀和技術(shù)交流，在3月27日下午，來賓和同行在輕松而熱烈的氛圍下進(jìn)行了分組討論，分別就器件測試、失效分析、系統(tǒng)測試和可靠性試驗進(jìn)行了深入的探討。

器件測試討論組有測試應(yīng)用中心技術(shù)人員、半導(dǎo)體界同行和ITC技術(shù)總監(jiān)Dave先生參加，大家對于依據(jù)ITC57300動態(tài)設(shè)備實際測試尤其MOSFET反向恢復(fù)測試項目很感興趣，紛紛提出意見見解，討論中解決了如何通過對相關(guān)設(shè)置（VDD,Lload，Pusle Duration，Vg）調(diào)整以提高di/dt測試條件設(shè)置，滿足客戶在研發(fā)階段的極限性能測試，同時極大地擴展了器件測試實驗室的測試能力。

在討論中，F(xiàn)airchild高級測試工程師Edward先生，ITC技術(shù)總監(jiān)Dave先生就MIL-STD-750F中如何測試二極管 Peak dv/dt項目的標(biāo)準(zhǔn)方法、電路搭建、實驗室現(xiàn)有設(shè)備對該方法的具體實施等問題展開熱烈的討論，并對測試模組+Labview軟控的架構(gòu)的實現(xiàn)方案進(jìn)行了探討。在失效分析討論小組，國際知名的超聲波掃描設(shè)備供應(yīng)商PVA公司的Kasim Altin先生對于各電源公司，高校，封裝廠商提出的在應(yīng)用中的實際問題，以現(xiàn)場演示和理論解說結(jié)合的方式，吸引了眾多技術(shù)人員的注意。 Kasim Altin先生對某大型電子公司的金屬特殊封裝產(chǎn)品所做的無損超聲波測試，解決了困擾該公司多年在此類金屬封裝產(chǎn)品方面難以通過無損檢測來控制缺陷的問題。系統(tǒng)測試小組的工程師們也與廣大行業(yè)專家進(jìn)行了針對性的技術(shù)交流，其中系統(tǒng)實驗室主管朱鵬先生、系統(tǒng)實驗室應(yīng)用工程師沈杰女士等人與美國HALT/HASS應(yīng)用專家Walter Wu先生討論并初步確定了HALT/HASS實驗中夾具的設(shè)計、電路板級別的夾具與電源系統(tǒng)級別夾具的設(shè)計區(qū)別與差異等技術(shù)問題。同時，測試中心的技術(shù)人員還與美國國際整流公司（IR）西安應(yīng)用中心的工程師余名浩先生就功率器件在客戶端應(yīng)用中出現(xiàn)的新趨勢、新問題、新技術(shù)進(jìn)行了探討。

關(guān)于可靠性實驗，測試應(yīng)用中心的工程師們和國富奇中國區(qū)銷售總經(jīng)理許忠良先生，以及工信部四院，電子十三所等研究機構(gòu)和廠商對于可靠性環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展、最新技術(shù)、實際遇到的種種問題都進(jìn)行了討論與交流，尤其是對于高低溫沖擊試驗不同模式的選擇與優(yōu)化提出了很好的建議，許總指出時間優(yōu)化模式是在確保試驗有效性的同時節(jié)省能源；正常模式是以時間為準(zhǔn)的最常見模式；時間優(yōu)化模式是對于試驗樣品較大情況下導(dǎo)致升溫速率變小而設(shè)計的以溫度達(dá)到相關(guān)要求開始計時的模式。不同的測試需求可以選取相對應(yīng)的模式，對于行業(yè)內(nèi)評估產(chǎn)品質(zhì)量、設(shè)計可靠性試驗有著極大的指導(dǎo)意義。

學(xué)校講座：

西安功率器件測試應(yīng)用中心秉持的理念之一是為校園內(nèi)的未來半導(dǎo)體行業(yè)從業(yè)者提供盡可能的協(xié)助與支持，測試中心建立至今，已在學(xué)校舉辦過數(shù)十場的專題演講，在西安高校產(chǎn)生了廣泛的影響。

針對目前大學(xué)生理論知識豐富而實踐能力不足的狀況，受西安電子科技大學(xué)、西北工業(yè)大學(xué)和長安大學(xué)的邀請，3月28日至29日，美國ITC技術(shù)總監(jiān)David J. Lohr先生、德國富奇許忠良先生及德國PVA高級應(yīng)用工程師Kasim Altin先生走進(jìn)高校進(jìn)行了五場關(guān)于功率循環(huán)、間歇壽命試驗的應(yīng)用、功率器件可靠性環(huán)境測試、針對半導(dǎo)體器件應(yīng)用的超聲波成像與分析技術(shù)最新發(fā)展的專題演講，系列講座從測試設(shè)備的使用和測試數(shù)據(jù)的分析入手，著重于測試?yán)碚撆c最新技術(shù)的結(jié)合，對相關(guān)專業(yè)學(xué)生開展了多方位的教育。 David先生引用典型測試曲線，給同學(xué)們做了詳細(xì)的講解和精辟的分析，并回答了同學(xué)提出的問題，讓同學(xué)們真真切切的感受到了理論和實踐相結(jié)合的重要性。

系列演講受到了在校大學(xué)生和老師以及專業(yè)聽眾的歡迎和高度評價，演講教室座無虛席。學(xué)生們在提問、討論環(huán)節(jié)非常活躍。紛紛表示此次講座讓自己獲益良多，對下次的專題講座充滿了期待。